用于产品安全加速范围的可靠性强化试验技术

兵工学报 ›› 2010, Vol. 31 ›› Issue (1): 79-83.

用于产品安全加速范围的可靠性强化试验技术

罗敏₁，姜同敏₂

(1.同济大学铁道与城市轨道交通研究院，上海 200092；2.北京航空航天大学工程系统工程系，北京 100191)

收稿日期:2008-01-07 修回日期:2008-01-07 上线日期:2014-05-04
通讯作者: 罗敏₁ E-mail:ruthluomin@126.com
作者简介:罗敏（1980—），女，博士
基金资助:
“十一五”国防预研项目（5B19030301）

Reliability Enhancement Testing Technology for Safe Acceleration Range

LUO Min₁, JIANG Tong-min₂

(1.Railway and Urban Transit Institute, Tongji University, Shanghai 200092, China；2.Department of System Engineering of Engineering Technology, Beihang University, Beijing 100191, China)

Received:2008-01-07 Revised:2008-01-07 Online:2014-05-04
Contact: LUO Min₁ E-mail:ruthluomin@126.com

摘要/Abstract

摘要： 为了在有限的经费和试验周期内，考核某长寿命、高可靠性微波电子产品长期贮存寿命与可为了在有限的经费和试验周期内，考核某长寿命、高可靠性微波电子产品长期贮存寿命与可靠性，利用可靠性分析手段，确定产品的薄弱环节和敏感应力。通过可靠性强化试验(RET)寻找产品的应力极限并分析产品性能指标的变化。试验结果表明，RET不仅可用于确定加速寿命试验(ALT)（退化）试验的安全加速范围，还可为加速退化试验(ADT)选择关键性能指标，从而提供了一种具有安全加速范围的加速试验方法。

关键词: 航空、航天系统工程, 微波电子产品, 加速试验, 可靠性

Abstract: For estimating long storage life and reliability index of some microwave electro

Key words: aerospace system engineering, microwave electronic product, accelerated testin

中图分类号:

TP114.3

罗敏₁，姜同敏₂. 用于产品安全加速范围的可靠性强化试验技术[J]. 兵工学报, 2010, 31(1): 79-83.

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