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基于长短时记忆算法的热应力下半导体器件故障预测模型
张明宇, 王琦, 于洋
LSTM-based Fault Prediction Model of Semiconductor Device under Thermal Stress
ZHANG Mingyu, WANG Qi, YU Yang
兵工学报 . 2021, (6): 1265 -1274 .  DOI: 10.3969/j.issn.1000-1093.2021.06.017

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